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电子测试热系统发展前景

对于现代社会来说,节能减排也是很重要的一项工作,在半导体、芯片、集成电路等行业的发展中,电子测试热系统可有效的对其温度范围进行测试,保证这类元器件能够有效的得到测试结果,避免能源浪费以及成本增加。

芯片测试低温控制


电子测试热系统在通过直流电时具有制冷功能,由于半导体材料具有可观的热电能量转换性能特性,所以人们把热电制冷称为电子测试热系统。电子测试热系统可以通过优化设计电子测试热系统模块,减小电子测试热系统模块的理想性能系数和实际性能系数间的差值,提高电子测试热系统器的实际制冷性能。

由于电子测试热系统的散热量等于其制冷量和输入功率之和,因此电子测试热系统热端散热效果是影响半导体制冷性能的重要因素。电子测试热系统采用各类强化散热方式可以提高制冷效率,有空气自然对流散热、强迫对流散热、水冷散热、相变沸腾换热等方式,均可以收到良好的效果。由于散热方式的选择在电子测试热系统的设计中很重要,所以选择何种方式应综合考虑电子测试热系统的用途及散热效率。

近年来有关电子测试热系统的研究得到了国内外学者的广泛关注。其关注的研究对象包罗万象,几乎涉及到所有领域,如军事、科学、航空航天、工业、农业、医疗卫生、生化和日常生活用品等。

目前,国内外学者对半导体的研究主要集中在半导体材料研究开发、模块设计制造和系统优化设计等方面,这需要从原理上对半导体制冷进行分析。与此同时,电子测试热系统的性能特性优化和系统的散热条件也是电子测试热系统研究的热点,通过研究电子测试热系统优值系数Z、电子测试热系统器的制造工艺过程、设计外部换热方式、优化内部热电偶结构以及整体电子测试热系统器件结构。随着科学技术的飞速发展,产品器件的尺寸有的越来越大,有的越来越小,有的状况越来越复杂,需要考虑多种因素。这样如何解决大功率半导体多级制冷的优化问题、小尺寸器件的局部散热问题和多因素的半导体热电能量转换问题就成为今后不断努力研究的内容。

电子测试热系统和半导体行业相结合,其使用范围也越来越广,其电子测试热系统控温也不但成熟,在未来也是有一定的发展空间的。(注:本来部分内容来百度学术相关论文,如果侵权,请及时联系我们进行删除,谢谢。)

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